电子元器件失效分析技术与经典案例高级研修班在BBIN BBIN宝盈集团湖南长沙顺利举办

　　对于绝大多数整机电子产品,其中种类最多、数量最多的当属电子元器件,而大部分情况下整机电子产品的故障都是由元器件失效引起。由于电子产品制造企业受限于元器件失效分析设备和人员能力,当电子元器件出现失效时往往只能通过更换或寄回原厂进行分析,而出于对故障物理、故障数据、故障案例的了解不足,最终很有可能对产品可靠性的改善和问题的预防没有任何帮助。工业和信息化部电子第五研究所元器件与材料研究院联合长沙市集成电路产业技术创新战略联盟面向国产化应用背景,在长沙举办“电子元器件失效分析技术与经典案例高级研修班”。

　　研修班通过国内资深失效分析专家的理论讲解和案例解析,帮助国内电子行业从业人员建立元器件可靠性、失效分析、失效模式及失效机理等基本概念,熟悉电子元器件常见失效模式与失效机理,建立不同门类元器件的失效分析思路和方法,为开展可靠性设计、物料管控、故障分析、生产制造以及安装运维等产品全寿命周期的可靠性工作打下基础。

　　本次培训班吸引了来自北京、上海、深圳、武汉、洛阳等地的40多家共70余名技术骨干代表。学员们纷纷表示,培训课程以案例为主,对自身未来研发工作有非常大的启发和帮助,平常自己工作中遇到技术问题也不知道可以请教谁,今天的培训中很多问题得到了老师的解答。参会学员代表期待未来有更多这样短而精、内容务实、对实际工作有帮助的培训,帮助企业解决技术骨干能力提升的问题。

　　据长沙市集成电路产业技术创新战略联盟副秘书长 郭昱 介绍,本次培训活动是联盟落实湖南打造先进制造业高地战略目标的重要举措,是湖南省打造“橘洲论坛”品牌的组成内容之一。“橘洲论坛”是湖南围绕电子信息制造业推出针对各个环节的系列活动品牌,通过打造“3+2+1”的子品牌体系,助力电子信息制造业的全面发展,服务于湖南省“三高四新”战略实施。

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