BBIN BBIN宝盈集团半导体失效分析：同“芯”协力 系列云上课堂！

　　目前国内疫情多发，线下活动受到了很多限制。为此芯榜联合赛默飞世尔科技半导体业务部门计划举办「同“芯”协力」系列云上课堂。

　　「同“芯”协力」系列云上课堂，将从各项分析技术的基本原理与优势出发，进而介绍针对的应用场景与案例，以及相关技术与工作流程的最新开发进展。

　　从技术类型上该系列课堂将涵盖用于物性失效分析的扫描电镜，双束电镜，等离子双束电镜，Laser PFIB三束系统和透射电镜，用于电性失效分析的热失效定位，光学失效定位，纳米探针，电路修补系统，以及静电放电与电过应力测试系统。

　　这些产品看似独立，但只有将这些不同的技术有机链接起来才能为不同的细分行业提供全方位完整的工作流程。所以无论您是行业新人或是大咖，相信您都可以从中有所获益，这也是赛默飞世尔科技半导体举办该系列课堂的初衷。

　　欲知详情，请关注 芯榜 后续介绍，即刻报名参加12月14日14点举办的第一场「同“芯”协力」云上课堂↓↓↓